当前位置: 服务项目 >FIB电路修补


FIB原理
Focused Ion Beam Basics (FIB) 原理 •利用液态镓金属(Liquid metal , Gallium)做为离子源,并且加以0~5万伏特的电场(filament)以形成电位差来加速正离子,中途经过电透镜(lenses)来达到电流密度控制及聚焦(focus)等作用,使离子朝待撞物行进以进行表面离子轰击(Ion b…
MORE    


FIB技术应用 Al and Cu 连线切线
利用FIB技术在客户芯片上做接线切线, 达成客户需求
MORE    


FIB技术应用 Clock Delay
依照客户需求在芯片上加长两点之距离, 以达到时脉延长之效果
MORE    
返回首页 | 在线留言 | 联系我们
Copyright ©2010 35.com All Rights Reserved
上海联系电话:浦東 +86 21-5027-4758    浦西 +86 21-6173-5323
無錫联系电话:+86 510-8181-9737 无锡新区长江路21号信息产业科技园D座1楼
深圳联系电话:+86 755-8610-4771 广东省深圳市南山区科丰路八号东门
成都联系电话 : +86 028-86252360 or 61 成都市高新区天府大道北段1480号高新孵化园一号楼A03
北京联系电话:+86 010-60609800 北京市海淀区创业中路32号楼1单元1层04室
苏ICP备11090227号
无锡君海半导体技术有限公司 版权所有